更新時間:2020-07-06
CINDBEST CL-4 | 4~8 精密I-V測試探針台CL係列探針台可兼容高倍率金相顯微鏡,可微調移動 ;可升級做射頻,大電流方麵的測試和激光修複應用
CINDBEST CL-4 | 4~8 精密I-V測試探針台特點 / 應用
滿足I-V/C-V,PIV測試,光電測試等.
最大可用於8英寸以內樣品測試
同軸絲杠傳動結構,線性移動
兼容高倍率金相顯微鏡,可微調移動
可升級做射頻,大電流方麵的測試和激光修複應用
CINDBEST CL-4 | 4~8 精密I-V測試探針台 台體規格:
光學係統:
探針座
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